高光譜影像感測系統EVK HELIOS EQ32是一個基於非接觸式和非破壞性的即時紅外光影像光譜的強大分析工具。內鍵的高光譜相機以非接觸方式測量化學材料特性並區分彩色相機不可見的材料類型。在近紅外光範圍內的偵測結果,提供用戶在食品加工、廢物管理、初級原材料擷取和次級原材料回收等眾多應用領域,例如分析物料濃度或材料成分。該相機作為即插即用元件,可執行完整的內部校正。
高光譜影像感測系統HELIOS EQ 32支援當前行業標準,以確保即時監控和分類的可靠性和連續性。配備 312 水平解析度,量測波長範圍 930 - 1700nm,掃瞄速度可達 446Hz ,最高可達3.8kHZ。在 320 像素的掃瞄寬度下,具有出色的訊噪比值3500。
Helios EQ32 使用專為監控和分類開發的數據處理和演算法軟體EVK SQALAR,能夠檢測和分選物料流中不需要的物體。採用緊實、堅固的不銹鋼外殼,自帶無應力的光學機構裝置,適用惡劣環境。即時處理能力和工業穩健性使得此套系統適合在生產線上 24/7 全天候使用。